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產品介紹
APRE干涉儀 - 標準和定制 - 提高您的計量能力，使您可以滿足客戶的需求。從我們的 S 系列干涉儀中選擇并構建適合您的系統。
在光學制造方面，不允許出現停機或不準確的情況。具有低成像分辨率和過時軟件的干涉儀會犧牲時間和質量，從而削減利潤并損害您的聲譽。
性能特點
- 1百萬像素 @160 Hz 衍射極限成像
- 10倍虛擬變焦
- 2倍更大的斜率接受度
- 快速、準確的表面和波前測量
技術參數
- 輸出直徑：51 毫米（2 英寸）
- 工作臺的光學中心線：108 毫米（4.25 英寸）
- 對焦范圍：±2米
- 尺寸（長 x 寬 x 高）63 x 29 x 18 厘米（24.8 x 11.4 x 7 英寸）
- 重量：25 公斤（55 磅）
- 對準系統：具有2° 捕獲范圍的十字線的 2 點
- 激光源：穩頻 SLM 633 nm HeNe（多種功率和 λ 選項）
- 激光頻率穩定性：<0.0001納米
- 相干長度：>100米
- 輸出極化：圓
- 相機分辨率：2044 X 2044 像素 [1024 X 1024 像素]
- 數字化：12位
- 安裝配置：水平或垂直
- 溫度：15º C 至 30º C（59º F 至 86º F）
- 濕度：5 至 95% 相對，非冷凝
- 隔振：推薦用于 PSI 和 VTPSI 的隔離系統
產品參數
津公網安備12010102000950號